３］の場合において、試験機器に内蔵されている機能で１、０を交互に繰り返す信号をＭＳ Ｋ変調部へ入力することができるときは、パターン発生器の代わりに内蔵されている信号源を 用いることができる。 ＾　３］の場合において、音声信号入力端子は、ＭＳＫ変調部から変調信号が入力される端子又 はモニタできる端子とし、マーク（変調波周波数　１　２　ｋＨｚ　）及びスペース（変調波周波数　１　８ ｋＨｚ）を交互に繰り返す変調信号のレベルを測定できる端子とする。 ＿　３］の場合において、次のいずれかに該当するときは、ＭＳＫ変調部の変調信号レベルは使 用状態の値とすることができる。 ア　ＭＳＫ変調部が送信部と同一筐体に内蔵されており、Ａ２Ｄ変調として内蔵のＭＳＫ変調 部以外の変調器を用いないとき。 イ　ＭＳＫ変調の変調度が７０％以上のとき。 ウ　ＭＳＫ変調部の変調信号レベルを可変する機能を有しないとき。 ‘　３］の場合において、変調度が６０％となる正弦波１ｋＨｚの信号源が内蔵されているときは、 当該信号源を用いることができる。ただし、正弦波１ｋＨｚの変調入力信号レベルを測定可能で あって、ＭＳＫ変調部からの変調信号入力時に切断状態にすることができるものに限る。 九　総合周波数特性 １　測定系統図 ￥　電波の型式がＡ３Ｅの場合 低周波 発振器 報 （号外第　　号） ］ 試験機器 擬似負荷 （減衰器） 官 変調度計 ］ 電波の型式がＡ２Ｄの場合 平成　　年　　月　　日 火曜日 低周波 発振器 スペクトル 分析器 変調度計 ＭＳＫ 変調部 送信部 擬似負荷 （減衰器） スペクトル 分析器 ４ 測定操作手順 変調波周波数を２００Ｈｚから３ｋＨｚまでの範囲で１０点から２０点、対数等分に変化させて、側帯波 の振幅をスペクトル分析器を用いて測定する。ただし、測定点に３５０Ｈｚと２　７ｋＨｚを含まなけれ ばならない。 ５　試験結果の記載方法 ３５０Ｈｚから２　７ｋＨｚまでの範囲内における振幅の最大値と最小値の比をｄＢ単位で記載する。 ６　その他 電波の型式がＡ２Ｄの場合は、低周波発振器からの信号を試験機器の音声信号入力端子に加え る。 十　総合歪及び雑音（電波の型式がＡ３Ｅであって秘匿性を有する通信を行う無線設備のみ） １　測定系統図 低周波 発振器 測定器の条件 スペクトル分析器を次のように設定する。 中心周波数 搬送波周波数＋又は−変調波周波数（変調波周波数の変化に対応） 掃引周波数幅 変調波周波数の変化ステップの２倍から３倍まで 分解能帯域幅 ３０Ｈｚ程度 入力レベル 搬送波レベルがスペクトル分析器雑音レベルよりも６０ｄＢ以上高い レベル ３　試験機器の状態 ￥　指定のチャネルに設定し、連続送信状態とする。 ］　変調入力信号レベルの設定は、変調度計を用いて正弦波１ｋＨｚで変調し、変調度が７０％とな る変調入力信号レベルとする。 擬似負荷 （減衰器） 復調器 （変調度計） 歪率雑音計 （ＳＩＮＡＤ） ２ 測定器の条件 復調器（変調度計）のローパスフィルタ遮断周波数は２０ｋＨｚ程度とする。 ３　試験機器の状態 ￥　指定のチャネルに設定し、連続送信状態とする。 ］　変調入力信号レベルの設定は、変調度計を用いて正弦波１ｋＨｚで変調し、変調度が７０％とな る変調入力信号レベルとする。 ４　測定操作手順 歪率雑音計を用いて、歪成分及び雑音成分の和に対する信号成分、歪成分及び雑音成分の和と の比、すなわちＳＩＮＡＤを測定する。ただし、ＳＩＮＡＤは次式によることとし、各成分は電 力次元とする。 ＳＩＮＡＤ＝（Ｓ＋Ｄ＋Ｎ）／（Ｄ＋Ｎ） Ｓ：信号成分　（電力次元） Ｄ：歪成分 （電力次元） Ｎ：雑音成分　（電力次元） ５　試験結果の記載方法 測定値をｄＢ（電力比）単位で変調波周波数と変調度とともに記載する。 ６　その他 歪率雑音計の基本波除去フィルタの連続性雑音に対する特性はＩＥＣ　Ｐｕｂ．６０４８９‐２による。 十一　副次的に発する電波等の限度 １　測定系統図 試験機器 試験機器 ２ 試験機器 ２ 擬似負荷 （減衰器） スペクトル 分析器 コンピュータ 測定器の条件 ￥　擬似負荷（減衰器）の減衰量は、２０ｄＢ程度以下とする。 ］　副次発射探索時のスペクトル分析器を次のように設定する。 掃引周波数幅 搬送波周波数が２７ＭＨｚ帯、４０ＭＨｚ帯、 又は１５０ＭＨｚ帯の場合は、 ９ｋＨｚから搬送波周波数の３倍まで 分解能帯域幅 測定周波数が９ｋＨｚから１５０ｋＨｚまでの場合は、１ｋＨｚ 測定周波数が１５０ｋＨｚから３０ＭＨｚまでの場合は、１０ｋＨｚ 測定周波数が３０ＭＨｚを超える場合は、１００ｋＨｚ ビデオ帯域幅 分解能帯域幅と同程度 掃引時間 測定精度が保証される最小時間 掃引モード 単掃引 検波モード ポジティブピーク